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該氣敏測試真空探針臺的承片臺X/Y/Z三個方向均可在真空環(huán)境下調(diào)節(jié)，其中X方向調(diào)節(jié)范圍：0－30mm；y方向調(diào)節(jié)范圍：0－13mm；z方向調(diào)節(jié)范圍：0－13mm；用戶可根據(jù)需要自行調(diào)節(jié)。使用時將需檢測的器件固定在加熱臺上，再微

小型真空探針臺高溫?zé)崤_KT-0904T-R主要用于為被測芯片提供一個高溫的變溫測量環(huán)境，以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導(dǎo)體器件接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差。

高溫?zé)崤_小型真空探針臺KT-0904T-R在高溫真空環(huán)境下的芯片測試、LD/LED/PD測試、光纖光譜特性測試、材料/器件的IV/CV特性測試、霍爾測試、電磁輸運特性、高頻特性測試等

Mini真空探針臺KT-0904T是一款普通型無高溫低溫系統(tǒng)真空探針臺，尺寸300mmX260mm，輕便小喬，功能齊全。可應(yīng)用于導(dǎo)體/微電子，電子，機電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機電/MEMS，生物芯片，航空航天等科學(xué)研究領(lǐng)域，以及IC設(shè)計/制造/測試/封裝、LED、LCD/OLED、LD/PD、PCB、FPC等生產(chǎn)制造領(lǐng)域。

高溫真空腔光學(xué)測試KT-Z4019MRL4T，300X300X170（mm） 氣浮隔振+阻尼隔振+橡膠減震底腳，-196℃至350℃微型高低溫探針臺，小巧輕便，功能齊全。